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綜合數字芯片測試儀


AT82000是一款綜合數字芯片測試平臺,可用于邏輯芯片和存儲器芯片在晶圓階段的CP測試和封裝后的FT測試,測試內容包括功能、邏輯、直流參數和交流參數。測試軟件采用模塊化設計,用戶可以根據需要靈活選擇測試項目和制定測試流程。測試儀整合了溫度箱,芯片能在可編程的溫度條件下進行可靠性測試。

 

綜合數字芯片測試平臺AT82000的設計指標如下表所示。

 


 
 編號  項目  指標  說明
 1 數字通道數  512  可以測試不超過512個引腳的數字芯片 
 2 通道速率   400Mb/S 支持的最大速率 
 3 向量存儲深度   64Mb 每通道 
 4 掃描存儲深度   64Mb 每通道配置PMU 
 5 邊沿定位精度  50ps 
 6 PMU量程  -2V—+7V,40mA  每通道配置PMU 
 7 可編程DUT電源  0V—5.5V,0.01V  可調節精度為0.01V 
 8 可調溫度箱  -55~125攝氏度  溫度范圍 
 9   0.5攝氏度   溫度波動度 
 10   小于2攝氏度   溫度均勻度 
11    2攝氏度 溫度偏差 

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