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混合信號芯片測試平臺
AT83000是一款混合信號芯片測試平臺，可用于模擬芯片和模擬-數字混合芯片在晶圓階段的CP測試和封裝后的FT測試，測試內容包括功能、直流參數和交流參數。測試軟件采用模塊化設計，用戶可以根據需要靈活選擇測試項目和制定測試流程。測試儀整合了溫度箱，芯片能在可編程的溫度條件下進行可靠性測試。
| 編號 | 項目 | 指標 | 說明 |
| 1 | 任意波形發生器 | 精度12bit | |
| 2 | 數字化儀 | 精度12bit | |
| 3 | 時間間隔分析儀 | 輸入頻率400MHZ | |
| 4 | 數字通道速率 | 200Mb/S | 支持的最大速率 |
| 5 | 邊沿定位精度 | 50ps | |
| 6 | PMU量程 | -2V—+7V，40mA | 每通道配置PMU |
| 7 | 可編程DUT電源 | 0V—5.5V，0.01V | 可調節精度為0.01V |
| 8 | -55~125攝氏度 | 溫度范圍 | |
| 9 | 可調溫度箱 | 0.5攝氏度 | 溫度波動度 |
| 10 | 小于2攝氏度 | 溫度均勻度 | |
| 11 | 2攝氏度 | 溫度偏差 |
