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混合信號芯片測試平臺

AT83000是一款混合信號芯片測試平臺,可用于模擬芯片和模擬-數字混合芯片在晶圓階段的CP測試和封裝后的FT測試,測試內容包括功能、直流參數和交流參數。測試軟件采用模塊化設計,用戶可以根據需要靈活選擇測試項目和制定測試流程。測試儀整合了溫度箱,芯片能在可編程的溫度條件下進行可靠性測試。


 編號  項目  指標  說明
 1  任意波形發生  精度12bit  
 2  數字化儀  精度12bit  
 3  時間間隔分析儀  輸入頻率400MHZ  
 4  數字通道速率  200Mb/S  支持的最大速率
 5  邊沿定位精度  50ps  
 6  PMU量程  -2V—+7V,40mA  每通道配置PMU
 7  可編程DUT電源  0V—5.5V,0.01V  可調節精度為0.01V
 8    -55~125攝氏度  溫度范圍
 9  可調溫度箱  0.5攝氏度  溫度波動度
 10    小于2攝氏度  溫度均勻度
 11    2攝氏度  溫度偏差

 

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